Notre plateforme combine les expertises dans le domaine de l’identification moléculaire et de la chimie des surfaces, avec deux équipements de pointe: un spectromètre de masse PHI nanoTOF II TOF-SIMS avec imagerie MS/MS  et une microsonde PHI VersaProbe III XPS à balayage.

Laboratoires académiques et industriels, peuvent bénéficier de ces équipements et du savoir-faire scientifique de cette plateforme, pour relever leurs défis technologiques dans une multitude de secteurs d’activités.

Ces deux techniques complémentaires permettent notamment une analyse quantitative inégalée des éléments et molécules et représentent un véritable atout pour la recherche et le soutien à l’innovation, à l’échelle régionale et nationale.

Venez découvrir le potentiel de cette plateforme unique en Suisse lors de ce séminaire. Des experts seront disponibles pour vous présenter le potentiel des techniques de XPS et de TOF-SIMS dans votre domaine d’activité et répondre à vos questions. Un rendez-vous personnalisé associé à une visite du laboratoire pourra être pris pour discuter de vos projets.

Source – www.lta-geneva.ch


HORAIRE Jeudi 14 novembre 2019
10:30
LIEU École de physique, Grand auditoire
Quai Ernest-Ansermet 24
1205 Genève
INFO & INSCRIPTION ICI
PROGRAMME COMPLET ICI
ORGANISATEUR LTA